曾老师 15018420573 广州市天河区长兴路363号
首页 > 工艺能力 > 辅助测量 > 台阶仪

工 艺 能 力

PROCESS CAPABILITY

一、信息详情:

设备名称:台阶仪

设备型号:DektakXT

设备厂商:德国Bruker

工作原理:当触针沿被测表面轻轻滑过时,由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时,还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。

用途:用于半导体、MEMS等领域晶圆或者器件台阶形貌的测量分析

二、技术性能指标:

1.扫描长度: 50µm-55mm  

2.垂直测量范围: 1mm  

3.台阶高度重现性5Å, 1σ 在1µm台阶上  

4.垂直分辨率:最大1Å(6.5µm范围)  

5.探针压力:1-15mg 最小可达0.03mg  

6.探针曲率半径:0.2 μm ,2μm

7.样品台尺寸:8英寸往下兼容