高分辨X射线行射仪(XRD)
设备型号：Smartlab 9kW
设备厂商：日本理学RIGAKU
用途：用于物相定性与定量分析；摇摆曲线；倒易空间图；计算结晶度、晶粒大小、晶胞参数的精确测定
技术参数
1．仪器X光源系统
● X－射线发生器：最大输出功率：9kW
● X－射线光管：最小焦斑尺寸0.4×8 mm2
2．光学编码测角仪系统
● 扫描方式：θ／θ可联动或单动，垂直方式
● 尤拉环
● 测角仪半径：300mm；测角仪为水平测角仪，测角仪最小步进为0.0001°
3．光学系统
● 小角散射测试组件（SAXS／Ultra SAXS）、多用途薄膜测试组件、微区测试组件、CBO－F微区光学组件、In－Plane测试组件（理学独有）
4．高速探测器D／teX－Ultra（能量分辨率20％以下）
● 最大计数：1，000，000 cps，线性范围：700，000 cps
送样须知
1．样品状态要求：可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试（有可能测试到基底，请悉知）；
2．粉未样品要求：请准备至少20mg，0.1g以上最好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感，送样前请务必研磨好：如果因样品量少或粒度不符合要求导致的结果不好，无法提供免费复测；
3．块状／薄膜样品要求：长宽1－2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，若为立方体则平面长宽＜20mm，且厚度范围50um－15mm；需要注明测试面，测试面需要平整光洁；
4．液体样品要求：1m～10ml，样品浓度越高越好，只有液体中有晶体存在才可能出峰，液体样品测试难度大且不确定性大，若样品能够被干燥，建议干燥成粉未状态后，选择粉未状态进行测试；不接受腐蚀性液体。
