X射线荧光光谱(XRF)
设备型号：PANalytical Axios
设备厂商：荷兰帕纳科
用途：主要用于确定材料中元素的种类和含量
送样须知
1．样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品
2．粉未样品：粉未样品需要至少2g，最好3 g以上，样品在测试之前尽量干燥，可以过200目筛的样品无需研磨；含碳元素含量超过10％的样品，请先将样品烧成灰，再测试；
3．块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5～4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整），块体样品最好平面平整光滑，上下面平行；4．粉末样品只能回收剩余的样品；
